[发明专利]分析装置及分析方法

说明书

本发明涉及分析装置,具备：供粒子流动的流路、粒子图像解析装置、散射振幅测量装置、信息生成部。粒子图像解析装置包含：拍摄部，拍摄在流路中流动的粒子的图像；第1获取部，根据图像获取映现在图像中的粒子的尺寸。散射振幅测量装置包含：激光光源，对流路照射激光；光检测器，检测激光中透过流路的透射光与由粒子引起的散射光；第2获取部，根据透射光与散射光的干涉的时间变化获取粒子的复散射振幅。信息生成部使用获取到的尺寸与获取到的复散射振幅，生成包含粒子的复折射率的特性信息。

技术领域

本发明涉及分析装置及分析方法。

背景技术

在环境、生产、生物医学等各种各样的研究开发领域中，要求高精度地分析粒子的特性。

近年来，作为这样的分析粒子的特性的技术，提出有测量单粒子的复散射振幅的技术。例如，美国专利申请公开第2010/0141945号说明书中公开有单粒子消光和散射(Single Particle Extinction and Scattering，SPES)法。SPES法是通过检测对单粒子照射激光而产生的散射光与透射光的干涉并根据检测结果计算粒子的复散射振幅的方法。在“Marco A.C.Potenza等3人，《Measuring the complex field scattered by singlesubmicron particles(测量由单亚微米粒子散射而得的复合场)》，AIP ADVANCES 5，117222，2015”以及“Nobuhiro Moteki，《Capabilities and limitations of the single-particle extinction and scattering method for estimating the complexrefractive index and size-distribution of spherical and non-sphericalsubmicron particles(单粒子消光和散射法估算球形和非球形亚微米粒子的复折射率和尺寸分布的能力和局限)》，Journal of Quantitative SpectroscopyRadiativeTransfer(定量光谱与辐射传递学报)，243，2020，106811”中也公开有SPES法。

发明内容

复散射振幅依赖于粒子的尺寸与粒子的复折射率。因此，能够通过假设粒子的尺寸并根据复散射振幅来计算复折射率。然而，由于粒子的尺寸是假设的，计算出的复折射率的精度会根据所假设的尺寸与实际的尺寸的差而变动。因此，计算出的复折射率的精度会降低。

本公开内容的目的在于，提供能够高精度地分析粒子的特性的分析装置及分析方法。

本发明的第1方案的分析装置分析粒子的特性。分析装置具备：供粒子流动的流路、粒子图像解析装置、散射振幅测量装置、信息生成部。粒子图像解析装置包含：拍摄在流路中流动的粒子的图像的拍摄部、根据图像获取映现在图像的粒子的尺寸的第1获取部。散射振幅测量装置包含：激光光源，对流路照射激光；光检测器，检测激光中透过流路的透射光与由在流路中流动的粒子引起的散射光；第2获取部，根据透射光与散射光的干涉的时间变化获取在流路中流动的粒子的复散射振幅。信息生成部使用由第1获取部获取的尺寸与由第2获取部获取的复散射振幅，生成包含粒子的复折射率、粒子的复介电常数、以及根据复折射率或复介电常数所推导的信息的至少1个的特性信息。

本发明的第2方案的分析方法分析粒子的特性。分析方法具备：拍摄在流路中流动的粒子的图像的步骤；根据图像获取映现在图像的粒子的尺寸的步骤；对流路照射激光的步骤；检测激光中透过流路的透射光与由在流路中流动的粒子引起的散射光的步骤；根据透射光与散射光的干涉的时间变化获取在流路中流动的粒子的复散射振幅的步骤；使用获取到的尺寸与获取到的复散射振幅，生成包含粒子的复折射率、粒子的复介电常数、以及根据复折射率或复介电常数所推导的信息的至少1个的特性信息的步骤。

该发明的上述及其他的目的、特征、方案及优点将由结合附图理解的与该发明相关的以下的详细说明来明示。

附图说明