[发明专利]一种芯片测试筛选方法在审
| 申请号： | 202110297692.0 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN112798940A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 邱翊琛 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张静洁;曹媛 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试筛选方法，包括：S1、选取一芯片中相邻的若干位线，其中，相邻的两个所述位线之间存在压差，所述位线存在已调整后的偏置电压；S2、令相邻的两个所述位线之间的介质受压；S3、将所述已调整后的偏置电压恢复至正常偏置电压，判断所述芯片是否存在至少一所述介质被击穿。本发明可筛选出以往在应用阶段才出现的可靠性风险芯片，不同批次中存在风险的芯片都能够筛选出。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 筛选 方法 | ||
【主权项】：
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