[发明专利]用于测量磁场梯度的设备和方法在审
| 申请号： | 202110292234.8 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN113433490A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | N·迪普雷;Y·比多 | 申请（专利权）人： | 迈来芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/022 | 分类号： | G01R33/022;G01R33/07;G01R33/06 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 黄嵩泉;张鑫 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 确定磁场梯度的方法，包括以下步骤：利用第一/第二偏置信号(I1，I2)来对第一/第二磁传感器进行偏置；测量并放大第一/第二磁传感器信号(v1，v2)；测量温度(T)和/或应力差(Δ∑)；在确定从第一/第二传感器信号导出的第一/第二信号/值之间的差值之前、使用所测得的温度和/或所测得的应力差的预定义函数f(T)或f(T,Δ∑)或f(Δ∑)来调整以下各项中的至少一项：第二偏置信号、第二放大器增益、经放大的并且经数字化的第二传感器值(A_V2)。一种被配置成用于执行该方法的磁传感器设备。一种电流传感器设备。一种位置传感器设备。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 磁场 梯度 设备 方法 | ||
【主权项】：
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