[发明专利]用于测量磁场梯度的设备和方法

说明书

确定磁场梯度的方法，包括以下步骤：利用第一/第二偏置信号(I1，I2)来对第一/第二磁传感器进行偏置；测量并放大第一/第二磁传感器信号(v1，v2)；测量温度(T)和/或应力差(Δ∑)；在确定从第一/第二传感器信号导出的第一/第二信号/值之间的差值之前、使用所测得的温度和/或所测得的应力差的预定义函数f(T)或f(T,Δ∑)或f(Δ∑)来调整以下各项中的至少一项：第二偏置信号、第二放大器增益、经放大的并且经数字化的第二传感器值(A_V2)。一种被配置成用于执行该方法的磁传感器设备。一种电流传感器设备。一种位置传感器设备。

技术领域

本发明总体上涉及磁传感器设备和测量磁场的方法的领域。本发明具体地涉及测量磁场梯度的设备和方法。

发明背景

用于测量磁场强度的设备是本技术领域中已知的。它们通常包含一个或多个霍尔元件或磁阻元件。磁传感器通常用于电流传感器、距离传感器、接近度传感器、接近度开关、线性位置或角位置传感器等，虽然磁感测提供了若干优点，诸如非接触测量、较少的机械磨损，但在外部干扰场存在的情况下，这些设备的准确性受到限制。

近年来，发现通过测量磁场梯度以及通过根据磁场梯度信号计算电流或距离或位置，而不是根据磁场分量值本身计算电流或距离或位置，可以很大程度上减少外部干扰场的影响。

总是存在改进和替代的余地。

发明内容

本发明的实施例的目的在于提供磁传感器设备和/或用于测量磁场梯度的方法。

具体而言，本发明的实施例的目的在于提供磁传感器设备和/或能够更加准确地测量磁场梯度的方法。

本发明的实施例的目的在于提供磁传感器设备和/或用于测量具有改善的信噪比(SNR)的梯度的方法。

本发明的实施例的目的在于提供磁传感器设备和/或用于更加准确地测量磁场梯度的方法，尽管温度变化和/或传感器设备上的应力变化。

本发明的实施例的目的在于提供磁传感器设备和/或用于以简单的方式(例如，无需求解一组方程式)更加准确地测量磁场梯度的方法，尽管温度变化和/或传感器设备上的应力变化。

本发明的实施例的目的在于提供电流传感器设备和/或基于磁场梯度测量电流的方法。

本发明的实施例的又一目的在于提供基于磁场梯度的距离传感器。