[发明专利]校准装置在审

专利信息
申请号: 202110274807.4 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN112881962A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 吴瑞仁;砂永登志男;陈卓凡 申请(专利权)人: 江苏时代全芯存储科技股份有限公司;塞席尔商使命科技控股有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本案揭露一种校准装置,是用以校准记忆体。校准装置包含输入端、第一上拉电路及第一比较器。输入端用以耦接外部电阻。第一上拉电路耦接于输入端,并用以接收电源供应电压。第一上拉电路包含多个第一上拉单元,这些第一上拉单元彼此并联。第一比较器耦接于输入端。第一比较器用以接收相应于电源供应电压的比例电压,并输出第一控制信号至该些第一上拉单元,使得该些第一上拉单元中每一者的电阻值相等于外部电阻的电阻值。本案实施例提供一种校准装置,通过校准装置对记忆体进行校准,以使记忆体与外部装置阻抗匹配,借以改善记忆体输出的高频信号产生反射的状况。
搜索关键词: 校准 装置
【主权项】:
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