[发明专利]一种半导体材料载流子浓度的检测方法在审

专利信息
申请号: 202110250914.3 申请日: 2021-03-08
公开(公告)号: CN113030188A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 朱景程;刘日;王景峰;孙磊 申请(专利权)人: 内蒙古工业大学
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 湖南楚墨知识产权代理有限公司 43268 代理人: 麦振声
地址: 010051 内蒙古*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: 发明公开了一种半导体材料载流子浓度的检测方法,包括S1:首先在实验室内部搭建电光效应试验仪器,再将需要检测的半导体材料置于电光效应试验仪的检测筒处,并与检测筒的正负电极接口对应;S2:选择可调节电容大小的平行板电容器,并使得半导体材料位于平行板电容器之间;S3:选择两段式的送风管道,并将电加热丝置于两段送风管道的一端处,通过管道连接结构连接两段式送风管道;本发明外加可调节电容大小的平行板电容器,使得待检测的半导体材料处于一定的电场内部,通过调节电场大小,得出待检测半导体材料的载流子浓度,相比较霍尔效应检测,不仅仅提高了检测效率,同时也提高了半导体材料载流子浓度的检测准度以及降低检测误差。
搜索关键词: 一种 半导体材料 载流子 浓度 检测 方法
【主权项】:
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