[发明专利]一种用于氦离子显微镜成像质量校正的样品及其制作方法在审
申请号: | 202110247163.X | 申请日: | 2021-03-05 |
公开(公告)号: | CN112858363A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 温晓镭 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01N23/2255 | 分类号: | G01N23/2255;G01N23/2202;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 李晓莉 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种用于氦离子显微镜成像质量校正的样品及其制作方法,所述样品包括衬底、导电层和聚苯乙烯微球颗粒,衬底上覆盖导电层,聚苯乙烯微球颗粒分散固定在导电层上;或者包括块体导电材料和聚苯乙烯微球颗粒,聚苯乙烯微球颗粒分散固定在块体导电材料上。由于氦离子在聚苯乙烯材料中穿透能力强,平均穿透深度超过微球尺寸,故聚苯乙烯微球颗粒在氦离子照射下不易发生融化、变形等损伤,并且其边界清晰的球形几何形状可灵敏反映出离子束聚焦问题,有利于离子束聚焦成像质量的校正。同时提供了一种用于氦离子显微镜离子束聚焦成像质量校正的样品的制作方法,该方法步骤简单,工艺要求低,适用于大批量生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 离子 显微镜 成像 质量 校正 样品 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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