[发明专利]用于LED的缺陷检测方法以及存储介质有效
| 申请号： | 202110235766.8 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN113160128B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 郑飞;林贵成;闫锋;李林林 | 申请（专利权）人： | 合肥图迅电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 戴冬瑾 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于LED的缺陷检测方法以及存储介质，用于LED的缺陷检测方法包括以下步骤：以深度卷积残差网络和特征金字塔网络作为特征提取器构建RetinaNet网络；构建LED训练图像集，并对LED训练图像集中的各LED训练图像进行缺陷标注，得到对应的缺陷目标信息；利用LED训练图像集中的各LED训练图像及其对应的缺陷目标信息，训练RetinaNet网络；利用训练好的RetinaNet网络，对获取的胶后LED图像进行缺陷检测。由此，该用于LED的缺陷检测方法，可以实现根据胶后LED产品的图像对胶后LED产品上的缺陷进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 led 缺陷 检测 方法 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥图迅电子科技有限公司，未经合肥图迅电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110235766.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
