[发明专利]外延结构、发光器件和外延结构的制作方法有效

专利信息
申请号: 202110183455.1 申请日: 2021-02-10
公开(公告)号: CN114038963B 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 翟小林;杨顺贵;张青洲;张海林;周毅 申请(专利权)人: 重庆康佳光电技术研究院有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 402760 重庆市璧*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 本申请涉及一种外延结构、发光器件及外延结构的制作方法,外延结构包括依次形成在衬底上的缓冲层和应力释放层,应力释放层包括第一应力释放层,第一应力释放层的材质为AlGaN,其中,Al组分含量占比为50%‑90%。第一应力释放层的材质为Al组分含量较高的AlGaN,可预先引入压应力,实现高质量无裂纹的GaN薄膜外延生长。高Al组分的第一应力释放层不仅过滤大量位错,而且引入的压应力使得部分位错转弯煙灭,最终实现镜面光滑无裂纹且低位错密度的GaN薄膜,在衬底尺寸较大的情况下控制外延结构的应力水平,进而控制波长均匀性。
搜索关键词: 外延 结构 发光 器件 制作方法
【主权项】:
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