[发明专利]芯片测试方法和计算芯片有效
| 申请号： | 202110056648.0 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112881887B | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 刘建波;陈默;范志军;郭海丰;杨作兴 | 申请（专利权）人： | 深圳比特微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 於菪珉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种芯片测试方法和计算芯片。待测的计算芯片包括多个核，所述芯片测试方法包括：所述多个核中的每个核分别执行以下操作：接收复位信号，其中，所述复位信号被配置为在核中产生相应的第一测试向量；基于安全散列算法，根据测试向量和测试随机值获取所述核的核测试结果，其中，测试向量包括第一测试向量；以及根据所述多个核的核测试结果生成所述计算芯片的芯片测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 计算 | ||
【主权项】：
暂无信息
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