[发明专利]一种可控研磨温度和研磨剂浓度的晶片研磨装置在审
申请号: | 202110030902.X | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN112605882A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 渠昊隆 | 申请(专利权)人: | 南京长相依贸易有限公司 |
主分类号: | B24B37/04 | 分类号: | B24B37/04;B24B37/34;B24B57/02;B24B37/015 |
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地址: | 211199 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及半导体相关领域,公开了一种可控研磨温度和研磨剂浓度的晶片研磨装置,包括主箱体,主箱体内设有开口向前的研磨腔,研磨腔下端壁固定连接有位于研磨腔内的研磨台,研磨腔右端壁固定连接有位于研磨腔内的温度传感器,研磨腔左侧设有出液腔,研磨腔左端壁固定连接有位于研磨腔内的喷嘴,通过活塞往复运动泵出磨液并量取磨料,磨液与磨料混合后再进行搅拌,最终输入到研磨腔内供晶片研磨,实现了磨料的定量输送,有利于磨料的充分混合,此外,通过磨料用量调节机构,可以调整研磨液中磨料的浓度,以配合不同规格的晶片加工,根据研磨温度调整研磨液流速,防止晶片因研磨温度过高而造成损坏。 | ||
搜索关键词: | 一种 可控 研磨 温度 研磨剂 浓度 晶片 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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