[发明专利]用于通过功率半导体开关中的饱和检测来进行短路探测的方法和装置在审
| 申请号： | 202080060461.1 | 申请日： | 2020-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN114270205A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | C·普尔卡利亚;F·福里瑟;D·马泰;D·施维克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 梁冰;司昆明 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明涉及一种用于通过功率半导体开关中的饱和检测来进行短路探测的方法以及一种相应的装置。根据功率半导体开关的供电电压（U |
||
| 搜索关键词： | 用于 通过 功率 半导体 开关 中的 饱和 检测 进行 短路 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗伯特·博世有限公司，未经罗伯特·博世有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202080060461.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
