[发明专利]检查装置、包装机及包装体的检查方法在审
| 申请号： | 202080029343.4 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113711020A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 大谷刚将;大山刚;坂井田宪彦 | 申请（专利权）人： | CKD株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/16;G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人： | 刘卓然 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种可谋求检查精度的提升等的检查装置、包装机及包装体的检查方法。X射线检查装置45具备：对所搬送的PTP薄膜25照射X射线的X射线照射装置51；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜25的X射线传感器相机53。且将根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像的坐标系统，依据X射线照射装置51、PTP薄膜25及X射线传感器相机53的位置关系，转换成PTP薄膜25的坐标系统，再基于该转换的X射线穿透画像，执行有关PTP薄膜25的检查。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 装机 包装 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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