[实用新型]一种用于控制芯片的布版结构检测装置

摘要

本实用新型公开了一种用于控制芯片的布版结构检测装置，包括检测台，所述检测台底部设置有若干支脚，所述检测台上端面设置有竖板，所述竖板前端面设置有检测盒，所述检测盒顶部设置有目镜，所述检测台上端面对应竖板位置设置有矩形槽，所述矩形槽内设置有可调节的移动板，所述移动板头部伸出矩形槽并设置有托板，所述移动板前端面设置有可调节的多用握把。本实用新型所述的一种用于控制芯片的布版结构检测装置，属于芯片检测领域，通过在检测台上方设置可调节位置的托板，利用托板来放置控制芯片，在移动托板后配合检测盒与目镜对控制芯片上的布版结构进行显微观察，从而检测布版结构的完整性。