[实用新型]光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测装置有效
| 申请号： | 202022152805.1 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN212514309U | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 邵剑波;席曦;刘桂林 | 申请（专利权）人： | 江南大学 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/01;H02S50/15 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅 |
| 地址： | 214122 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测装置。其包括检测壳体以及传送带，采样光路的光线能入射到检测位置的硅太阳电池上；硅太阳电池反射的光线经采样光路能进入光纤耦合器内，且在光纤耦合器内能与参考光路返回的光线产生光学干涉，通过与所述光纤耦合器连接的光电探测器能采集所述光纤耦合器输出的能反映后向散射强度的光学干涉信号；光电探测器将所采集的光学干涉信号处理后得到检测扫描信号，并将所述检测扫描信号传输至图像处理器内，图像处理器根据检测扫描信号能建立检测位置上硅太阳电池的三维结构信息。本实用新型能有效检测确定硅太阳电池的隐裂、缺陷等不良状况，提高产品的合格率，智能化程度高，安全可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 纵向 分层 扫描 太阳电池 质量 检测 装置 | ||
【主权项】：
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