[实用新型]一种适用于核与辐射环境的折反射全景成像系统有效

专利信息
申请号: 202021008775.0 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN212463313U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 田凤莲;张静;刘满禄;张华;王姮;张敦凤;刘冉;霍建文 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: H04N5/225 分类号: H04N5/225;G02B17/08
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 李蕊
地址: 621010 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种适用于核与辐射环境的折反射全景成像系统,其包括透光面罩,透光面罩的上端设置有第一屏蔽层,透光面罩的下端设置有第二屏蔽层;第一屏蔽层的下表面设置有双曲面反射镜;第二屏蔽层上设置有用于放置成像器的存放腔,存放腔的上端设置有可调镜头;存放腔的下端设置有斜向的线缆通道。本实用新型通过第一屏蔽层屏蔽来自正上方的辐射,通过第二屏蔽层屏蔽来自前后左右和下方的辐射,可以有效将环境辐射与成像器进行隔离,避免成像器受辐射影响。同时本实用新型通过双曲面反射镜将四周环境反射至成像器中,使得本系统可以获取360°的图像,保证了开阔的全局视野,提高了成像效率。
搜索关键词: 一种 适用于 辐射 环境 反射 全景 成像 系统
【主权项】:
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