[发明专利]一种芯片半自动测试系统有效
| 申请号： | 202011644904.X | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112834910B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 辅俊海;顾向前;桂晓峰;吕娅;徐宏思 | 申请（专利权）人： | 成都海光集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新区天府大道*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例一种芯片半自动测试系统，涉及半导体封装测试技术领域，便于提高实验室中芯片测试效率，可满足小批量测试任务。包括：测试台，所述测试台包括：台架及沿水平方向可移动地设于所述台架上的第一导轨，在所述第一导轨上设有可横向及竖向移动的温控压头，在所述台架上、位于所述温控压头下方设有测试单板，所述测试单板具有芯片安装部。本发明适用于芯片性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 半自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
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