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[发明专利]芯片系统级测试方法及装置-CN202111285686.X有效
发明人：桂晓峰;李育飞;徐宏思;刘署 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片系统级测试方法，包括：依据芯片在第一预定环境和第二预定环境下的电压频率特性曲线，确定芯片在第二预定环境相对于第一预定环境所需的原始补偿数据；依据所述原始补偿数据以及目标测试频率，确定芯片内的电压补偿值；采用所述电压补偿值对测试电压进行补偿。本发明提供的芯片系统级测试方法及装置，能够使芯片在测试环境下和使用环境下工作在同一个电压频率曲特性曲线上，提高测试的涵盖范围。
芯片系统测试方法装置

[发明专利]一种系统内存识别测试方法、系统及电子设备-CN202011523944.9有效
发明人： 徐宏思;桂晓峰;刘署;李育飞 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明的实施例公开一种系统内存识别测试方法及系统，属于系统内存技术领域，用于解决目前操作系统命令比较粗糙，无法判断芯片哪个内存通道存在问题的问题。本发明的方法，包括：获取内存识别请求；通过访问内存控制器中的寄存器来识别内存。本发明通过底层访问芯片内存控制器寄存器来判断内存是否被识别，可以精确判定芯片上的每个内存通道是否有问题。
一种系统内存识别测试方法电子设备

[发明专利]一种基于系统级测试平台的芯片并行测试系统和测试方法-CN202310512924.9在审
发明人：桂晓峰;李育飞;徐宏思 -专利权人：海光集成电路设计（北京）有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于系统级测试平台的芯片并行测试系统和测试方法，该并行测试系统包括测试服务器和多个系统级测试平台，测试平台包括测试主板以及与测试主板通过总线连接的读写工具，测试主板上设置有待测芯片，测试服务器通过网络连接到每个测试平台的读写工具，测试服务器运行测试程序，用于通过控制多个读写工具对多个待测芯片进行并行测试。本发明的技术方案利用系统级测试平台实现多个待测芯片的并行测试，降低了测试成本，能够适配不同型号和项目的产品，不需要向量文件的转换和编译，提高了可扩展性，验证流程简洁高效。
一种基于系统测试平台芯片并行方法

[发明专利]一种芯片半自动测试系统-CN202011644904.X有效
发明人：辅俊海;顾向前;桂晓峰;吕娅;徐宏思 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2020-12-31 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例一种芯片半自动测试系统，涉及半导体封装测试技术领域，便于提高实验室中芯片测试效率，可满足小批量测试任务。包括：测试台，所述测试台包括：台架及沿水平方向可移动地设于所述台架上的第一导轨，在所述第一导轨上设有可横向及竖向移动的温控压头，在所述台架上、位于所述温控压头下方设有测试单板，所述测试单板具有芯片安装部。本发明适用于芯片性能测试。
一种芯片半自动测试系统

[发明专利]芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器-CN202011344417.1有效
发明人：李育飞;马越;徐宏思 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2020-11-25 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器，芯片测试方法包括：从服务器获取芯片的测试电压配置信息以及芯片进行本次测试的初始工作频率，其中，测试电压配置信息中包括每次对芯片进行测试的测试电压值；根据测试电压配置信息在本次测试的测试电压下使芯片在初始工作频率的基础上增大工作频率，对芯片进行测试，确定出芯片在本次测试的测试电压下的最高工作频率；根据测试电压配置信息在下一次测试的测试电压下使芯片在上一次测试得到的最高工作频率的基础上增大工作频率，对芯片进行测试，确定出芯片在下一次测试的测试电压下的最高工作频率，直至测试出芯片在最高工作电压下的最高工作频率，该方法提高了芯片测试的效率。
芯片测试方法装置处理器服务器

[发明专利]芯片系统级测试方法、装置及系统-CN202011499323.1有效
发明人：马越;桂晓峰;李育飞;徐宏思 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开的芯片系统级测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。其中所述测试方法包括：当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数，发送给测试主机写入到待测芯片中；当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。
芯片系统测试方法装置

[发明专利]芯片网络功能测试方法、装置、存储介质及设备-CN202011482378.1有效
发明人：刘署;徐宏思;桂晓峰;李育飞 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2020-12-15 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： H04L43/0817 文献下载
摘要：本发明一个或多个实施例公开了一种芯片网络功能测试方法、装置、存储介质及设备，该方法包括：通过第一网络接口卡发送第一测试数据给第二网络接口卡，其中，所述第一网络接口卡以及所述第二网络接口卡通过网线相连，所述第一网络接口卡与所述第二网络接口卡位于同一主板上，所述芯片设置于所述主板上；对比所述第一网络接口卡发送的所述第一测试数据以及所述第二网络接口卡实际接收到的测试数据，得到第一测试结果，该方法可有效提高测试效率。
芯片网络功能测试方法装置存储介质设备

[发明专利]一种芯片测试方法和系统-CN202111503065.4在审
发明人：李育飞;桂晓峰;徐宏思;刘署 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片测试方法和系统，由服务器、交换机和至少一个通过交换机与服务器连接的测试机台组成，所述方法包括：经测试机台获取所述测试机台上待测芯片的产品参数；识别与所述测试机台对应的第一版本号，判断所述第一版本号是否与所述产品参数一致；如果否，则根据所述产品参数从服务器对应存储区域获取并更新产品配置文件和/或第二测试用例；并按照更新后的第二测试用例对待测芯片执行测试进程；如果是，则根据第一版本号对应的第一测试用例执行测试进程。本发明能够通过测试机台根据其当前芯片的测试需求从服务器中获取对应测试用例进行更新，进而实现多系列产品高效、准确、操作简易地共享测试机台。
一种芯片测试方法系统

[发明专利]芯片挑选方法及装置-CN202111336323.4在审
发明人：刘署;徐宏思;桂晓峰;李育飞 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片挑选方法，包括：向测试机发送测试开始指令，以使测试机将待测试的芯片安装在测试主板上并向测试主板供电；通过测试主板的联合测试工作组接口，读取芯片的第一序列号；将芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对，当序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片；当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，向测试机发送断电指令，以使测试机将测试主板断电并取下当前的芯片。本发明提供的芯片挑选方法，能够在不进入操作系统的情况下，通过联合测试工作组接口读取第一序列号，并将第一序列号与序列号列表中进行比对，从而能够节省挑选时长，提高效率。
芯片挑选方法装置

[发明专利]芯片测试温度控制方法、控制系统、温控板卡及测试系统-CN202011375755.1在审
发明人：桂晓峰;徐宏思;辅俊海 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开一种芯片测试温度控制方法、控制系统、温控板卡及测试系统，涉及芯片测试技术领域，有利于提高温控效果。包括：获取当前芯片封装壳体内部核温度信息；所述核温度信息包括核温度；根据所述核温度与预设温度阈值进行比较，确定温控策略；所述温控策略包括升温、降温或保持当前温度状态；发送所述温控策略至控温单元，以使所述控温单元根据所述温控策略控制芯片内部核温度。本发明适用于芯片测试场景中。
芯片测试温度控制方法控制系统温控板卡系统

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