[发明专利]一种特高频局部放电传感器的综合校验方法及系统有效
| 申请号： | 202011617625.4 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112834975B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 李天辉;臧谦;曾四鸣;张达;顾朝敏;董驰;甄利;刘宏亮;路士杰 | 申请（专利权）人： | 国网河北省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;国网河北能源技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京智绘未来专利代理事务所(普通合伙) 11689 | 代理人： | 肖继军 |
| 地址： | 050000 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 一种特高频局部放电传感器的综合校验方法及系统，在预设检测频段内按照预设数量的扫描点，测量被试特高频传感器的S参数和有效高度，使用检测结果及其历史值，对所述特高频局部放电传感器的回波损耗、真实带宽、插入损耗、有效覆盖工作频带、高增益工作频带和真实平均有效高度进行多维度综合校验。本发明实现了传感器校验的多维度综合评价，弥补了现有校验方法中缺乏相关定义和参数要求的不足，解决了传统评价方法在整个检测频率范围内对各参量一概而论、大量特征信息利用不足，并掩盖部分频率范围中特征参量不合格、传感器性能不佳的问题，考察了传感器特性随时间维度的变化情况和受运行环境的影响情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 局部 放电 传感器 综合 校验 方法 系统 | ||
【主权项】：
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