[发明专利]药物中痕量基因毒性杂质三氟甲磺酸酯的定量测定方法有效
| 申请号： | 202011576214.5 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN112782303B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 邵红霞;秦秋明;汪辉;刘婷 | 申请（专利权）人： | 上海微谱化工技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02;G01N30/72;G01N30/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200438 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及药物检测技术领域，更具体地，本发明涉及药物中痕量基因毒性杂质三氟甲磺酸酯的定量测定方法。包括：(1)标准曲线的绘制；(2)三氟甲磺酸酯的测定。可解决目前三氟甲磺酸酯类难以检测的问题，为药企基因毒性杂质风险监控提供有效的技术支持；利用衍生剂和三氟甲磺酸酯反应，提供的测定方法简便、高效、精确，避免了三氟甲磺酸酯测定过程中不稳定、干扰较多的问题；可用于药物，如阿扎胞苷中痕量杂质三氟甲磺酸酯的测定，也有好的测定效果，具有好的准确度、可重复性和可靠性；对衍生产物进行顶空‑气相色谱‑质谱测定时，具有出峰快、分离度高、峰形好的特点，并采用质谱进行检测，可获得高的灵敏度和专属性。 | ||
| 搜索关键词： | 药物 痕量 基因 毒性 杂质 三氟甲磺酸酯 定量 测定 方法 | ||
【主权项】：
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