[发明专利]三维集成结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202011531343.2 申请日: 2020-12-22
公开(公告)号: CN112652621B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 朱宝;陈琳;孙清清;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学;上海集成电路制造创新中心有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L21/822
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 黄海霞
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种三维集成结构,包括:第一纳米电容,第一纳米电容设有显露出部分第一底部金属电极层的第一底部连电接孔和显露出第一顶部金属电极层的第二底部连接孔;第二纳米电容,垂直设于第一纳米容且位于第一底部连接孔和第二底部连接孔之间,包括第二底部金属电极层和第二顶部金属电极层,第二纳米电容设有显露出部分第二底部金属电极层的第一顶部连接孔和显露出部分第二顶部金属电极层的第二顶部连接孔。本发明通过第一纳米电容和第二纳米电容垂直并联,且第一纳米电容且位于第一底部连接孔和第二底部连接孔之间,显著增大电容密度,减少纳米电容所占据三维集成结构的平面面积。另外,本发明还提供了一种三维集成结构的制造方法。
搜索关键词: 三维 集成 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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