[发明专利]一种用于提高背照式光电二极管响应度的结构及制作方法在审

专利信息
申请号: 202011503171.8 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112768550A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 王立;黄晓峰;崔大健;高新江;莫才平;张承;唐艳;陈伟 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0216;H01L31/0304;H01L31/18
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及半导体光电二极管领域,特别涉及一种用于提高背照式光电二极管响应度的结构及制作方法,包括:衬底,在衬底上生长有吸收层、渐变层、窗口层和欧姆接触层;该结构采用台面型芯片结构;台面型结构的有源区域设置有钝化膜以及由P型金属形成的光栅反射层;从台面下N型接触层引出N电极,与P电极形成共平面电极;本发明通过在P型金属层上设置光栅反射层,使得该层对于光源的反射效率达到80%以上,在加入光栅反射层后不影响原芯片欧姆接触区的导电效果,提高了高速大功率光电二极管的响应度。
搜索关键词: 一种 用于 提高 背照式 光电二极管 响应 结构 制作方法
【主权项】:
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