[发明专利]SiC MOSFET串扰电压的计算、寄生参数提取和驱动参数整定方法有效

专利信息
申请号: 202011443593.0 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN112491253B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 刘恒阳;孔武斌;曲荣海;涂钧耀 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H02M1/088 分类号: H02M1/088;G01R31/28
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 胡秋萍;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开SiC MOSFET串扰电压的计算、寄生参数提取和驱动参数整定方法,属于宽禁带半导体器件驱动技术领域。本发明所构思的技术方案,简化了考虑共源电感的SiC MOSFET串扰电压模型,并将其与实际串扰电压抑制方法结合,通过优化求解的方法找到串扰电压抑制效果最好的驱动回路集中参数组合,大大减少了硬件调试阶段因反复更换元件进行双脉冲测试所消耗的时间与器件,提高硬件设计效率,简化参数整定流程。
搜索关键词: sic mosfet 电压 计算 寄生 参数 提取 驱动 方法
【主权项】:
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