[发明专利]一种时序路径的老化仿真分析方法在审
| 申请号： | 202011440411.4 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112417801A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 郭超;董森华;陈彬;江荣贵;石华俊 | 申请（专利权）人： | 北京华大九天软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 100102 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种时序路径的老化仿真分析方法，包括以下步骤：1）基于时序路径搭建电路网表；2）在所述电路网表中的各个单元模块之间插入第一电阻；3）在所述电路网表中的各个单元模块的输出端插入第二电阻，并通过电容接地；4）在所述电路网表中的各个单元模块的输入端插入第三电阻，并通过电压激励源接地；5）进行应力仿真；6）将应力仿真结果代入时序仿真的网表，运行SPICE时序仿真。本发明在应力仿真与时序仿真的电路网表中添加不影响仿真精度的控制元件，并对时序路径中各单元模块独立设定信号翻转率与信号占空比，从而实现对时序路径中各单元老化条件的动态控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 时序 路径 老化 仿真 分析 方法 | ||
【主权项】：
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