[发明专利]一种时序路径的老化仿真分析方法在审
申请号: | 202011440411.4 | 申请日: | 2020-12-11 |
公开(公告)号: | CN112417801A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 郭超;董森华;陈彬;江荣贵;石华俊 | 申请(专利权)人: | 北京华大九天软件有限公司 |
主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308;G06F119/04 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 王金双 |
地址: | 100102 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 时序 路径 老化 仿真 分析 方法 | ||
1.一种时序路径的老化仿真分析方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)基于时序路径搭建电路网表;
2)在所述电路网表中的各个单元模块之间插入第一电阻;
3)在所述电路网表中的各个单元模块的输出端插入第二电阻,并通过电容接地;
4)在所述电路网表中的各个单元模块的输入端插入第三电阻,并通过电压激励源接地;
5)进行应力仿真;
6)将应力仿真结果代入时序仿真的网表,运行SPICE时序仿真。
2.根据权利要求1所述的时序路径的老化仿真分析方法,其特征在于,所述电容的值分别为各个单元模块各自的负载值。
3.根据权利要求1所述的时序路径的老化仿真分析方法,其特征在于,所述电压激励源,其通过用户对各个单元模块分别设定信号翻转率、信号占空比与工作频率进行构造。
4.根据权利要求1所述的时序路径的老化仿真分析方法,其特征在于,所述步骤5)进一步包括以下步骤:
41)将所述第二电阻和第三电阻设定为极小值,所述极小值小于或等于0.01;
42)将第一电阻设定为极大值,所述极大值大于等于1.0e8;
43)运行SPICE应力仿真。
5.根据权利要求1所述的时序路径的老化仿真分析方法,其特征在于,所述步骤6)进一步包括以下步骤:
51)将步骤5)中的应力仿真的结果代入时序仿真;
52)将第三电阻和第二电阻设定为极大值,所述极大值大于或等于1.0e8;
53)将第一电阻设定为极小值,所述极小值小于或等于0.01。
6.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至5任一项所述的时序路径的老化仿真分析方法步骤。
7.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令运行时执行权利要求1至5任一项所述的时序路径的老化仿真分析方法的步骤。
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