[发明专利]一种衰减型高均匀的相移光掩膜坯料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011400325.0 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112666789A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 徐根;李翼;李伟;周志刚;杨旭 申请(专利权)人: 湖南普照信息材料有限公司
主分类号: G03F1/32 分类号: G03F1/32;G03F1/46;G03F1/44;C23C14/35;C23C14/10;C23C14/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杨威
地址: 410205 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种衰减型高均匀的相移光掩膜坯料,包括:玻璃基片;复合在所述玻璃基片上的相移层;复合在所述相移层上的铬氮化物遮光膜层;复合在所述铬氮化物遮光膜层上的铬氮氧化物减反射膜层;所述相移层为硅氧化物薄膜。与现有技术相比,本发明提供的衰减型高均匀的相移光掩膜坯料采用特定膜结构,实现较好的整体相互作用,从而使该相移光掩膜坯料兼具高均匀性和良好的显示效果,并且具有强的耐氢氟酸性,应用范围广。
搜索关键词: 一种 衰减 均匀 相移 光掩膜 坯料 及其 制备 方法
【主权项】:
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