[发明专利]集成电容器及其制造方法,射频电路在审

专利信息
申请号: 202011298361.0 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112530939A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 龚颂斌;杨岩松 申请(专利权)人: 偲百创(深圳)科技有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L49/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 虞凌霄
地址: 518048 广东省深圳市福田区华富街道莲*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种集成电容器及其制造方法,射频电路;所述集成电容器包括:第一金属层;第一介质层,设于第一金属层上;第二金属层,设于第一介质层上;第二介质层,设于第一介质层上;第三金属层,设于第二金属层上,与第二金属层直接接触,且第三金属层延伸至第二介质层上,第三金属层的厚度大于第二金属层的厚度;其中,第一金属层包括电容器的第一极板,第一介质层包括电容器的电容介电层,第二金属层包括电容器的第二极板;第二金属层的全部边缘被第二介质层覆盖,从而使得第三金属层与第二金属层的接触面积小于第二极板的面积。本发明在能够保证电容器获得准确电容值的前提下,可以不牺牲电容器的电容密度、占地面积和可靠性获得高品质因数。
搜索关键词: 集成 电容器 及其 制造 方法 射频 电路
【主权项】:
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