[发明专利]基于线结构光的齿轮齿廓测量设备有效

专利信息
申请号: 202011285921.9 申请日: 2020-11-17
公开(公告)号: CN112629466B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 罗天洪;王成琳;廖尉捷;范磊;陈婕;孙伟;李忠涛;杨清 申请(专利权)人: 重庆文理学院
主分类号: G01B21/16 分类号: G01B21/16
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 胡博文
地址: 402160 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种基于线结构光的齿轮齿廓测量设备,包括工作台、安装在工作台上的齿轮固定座以及环绕所述齿轮固定座设置的环形导轨;所述环形导轨上设有可沿环形导轨滑动且同时带动相机自转的两个相机安装台,所述相机安装台上设有相机,所述齿轮固定座的上方安装有环形激光器,所述环形激光器与齿轮固定座上固定的被测齿轮的中心轴线同心。本发明采用圆圈式激光器可避免被测轮齿上的投射光被前一轮齿面遮挡,采用周转自转一体化的图像采集装置,可完成对齿轮齿厚、基圆半径、渐开线齿形误差等多种参数的测量,具有测量效率高、精度高、体积小巧等特点,可满足不同尺寸和齿数的齿轮测量。
搜索关键词: 基于 结构 齿轮 测量 设备
【主权项】:
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