[发明专利]基于L1正则约束深度多示例学习的高光谱目标检测方法在审
申请号: | 202011258058.8 | 申请日: | 2020-11-12 |
公开(公告)号: | CN112364773A | 公开(公告)日: | 2021-02-12 |
发明(设计)人: | 缑水平;白苑宁;焦昶哲;任子豪;逯皓帆;王秀秀;牟金明;任海洋 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62;G06N3/04 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;王玺钧 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于L1正则约束深度多示例学习的高光谱目标检测方法,主要解决现有技术对复杂场景下的高光谱目标检测效果差的问题。其实现步骤为:1)对输入图像进行划分,得到训练集和测试集;2)构建基于L1正则约束的深度多示例学习网络W;3)用训练集对网络W进行迭代训练,当构建的损失函数达到最小值时,得到初步训练完成的网络W |
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搜索关键词: | 基于 l1 正则 约束 深度 示例 学习 光谱 目标 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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