[发明专利]芯片测试方法及系统有效
| 申请号： | 202011194098.0 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112285538B | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 朱夕辉;蒋嵩;梁康甫;赵岩;李敬业;黄凯;时应盼;苏煜川 | 申请（专利权）人： | 国核自仪系统工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 杨东明;张冉 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试方法及系统。方法包括：获取对芯片进行软件仿真测试所得的波形文件，波形文件包括芯片在软件仿真测试通过的情况下输入引脚在每个时钟周期内的输入信号波形和输出引脚相应产生的预期输出信号波形；将波形文件转换成数据流文件，数据流文件包括输入数据流和预期输出数据流；根据输入数据流控制信号输入电路产生激励信号并发送至芯片的输入引脚；通过信号输出电路回收芯片的输出引脚输出的输出信号并转换成实际输出数据流；比较实际与预期输出数据流是否相同。本发明的芯片测试系统能够复用芯片在软件开发过程中的测试数据和波形，无需额外开发测试用例，自动对比并定位预期波形和实际波形的时间点。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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