[发明专利]芯片测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种芯片测试方法及系统。方法包括：获取对芯片进行软件仿真测试所得的波形文件，波形文件包括芯片在软件仿真测试通过的情况下输入引脚在每个时钟周期内的输入信号波形和输出引脚相应产生的预期输出信号波形；将波形文件转换成数据流文件，数据流文件包括输入数据流和预期输出数据流；根据输入数据流控制信号输入电路产生激励信号并发送至芯片的输入引脚；通过信号输出电路回收芯片的输出引脚输出的输出信号并转换成实际输出数据流；比较实际与预期输出数据流是否相同。本发明的芯片测试系统能够复用芯片在软件开发过程中的测试数据和波形，无需额外开发测试用例，自动对比并定位预期波形和实际波形的时间点。

技术领域

本发明属于芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试方法及系统。

背景技术

程序员根据软件需求设计编写逻辑代码后，开展软件测试。在验证工程师准备好软件测试平台和测试用例后，仿真软件会模拟被测对象在测试平台中测试激励作用下的输出情况，验证工程师通过观察仿真软件输出的波形图或测试记录，来判断被测对象是否符合预期的功能。在软件测试活动后，需要面临证明软件代码烧写到芯片或芯片系统是否与预期的功能设计一致的问题。由于芯片测试成本、大数据量采集和芯片测试监控等问题，软件下装后的芯片测试用例很难复用软件层面的测试用例，需要重新建立测试激励环境和测试信号，且很难达到软件级测试的深度和广度。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中软件下装后的芯片测试用例很难复用软件层面的测试用例，需要重新建立测试激励环境和测试信号的缺陷，提供一种芯片测试方法及系统。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的：

一种芯片测试方法，包括：

获取对芯片进行软件仿真测试所得的波形文件，所述波形文件包括所述芯片在软件仿真测试通过的情况下输入引脚在每个时钟周期内的输入信号波形和输出引脚相应产生的预期输出信号波形；

将所述波形文件转换成数据流文件，所述数据流文件包括经所述输入信号波形转换得到的输入数据流和经所述预期输出信号波形转换得到的预期输出数据流；

根据所述输入数据流控制信号输入电路产生激励信号并发送至所述芯片的输入引脚；

通过信号输出电路回收所述芯片的输出引脚输出的输出信号并转换成实际输出数据流；

比较所述实际输出数据流与所述预期输出数据流是否相同，得到测试结果。

较佳地，所述芯片测试方法还包括：

若所述实际输出数据流与所述预期输出数据流不相同，则对不相同的部分打上标签。

较佳地，所述芯片测试方法还包括：

生成与不相同的部分对应的新的波形文件。

一种芯片测试系统，用于实现如上所述的芯片测试方法，所述芯片测试系统包括：工控机、PCB(印制电路板)母板和PCB子板，所述PCB子板用于嵌入芯片并将芯片的引脚引出，引出的引脚与PCB母板的引脚连接；

所述PCB母板上还设置有微控制器、信号输入电路和信号输出电路；

所述工控机包括波形转换模块；

所述波形转换模块用于获取对所述芯片进行软件仿真测试所得的波形文件，将所述波形文件转换成数据流文件，并将所述数据流文件传输至所述微控制器，所述波形文件包括所述芯片在软件仿真测试通过的情况下输入引脚在每个时钟周期内的输入信号波形和输出引脚相应产生的预期输出信号波形，所述数据流文件包括经所述输入信号波形转换得到的输入数据流和经所述预期输出信号波形转换得到的预期输出数据流；

所述微控制器用于解析所述数据流文件，得到所述输入数据流和所述预期输出数据流，并将所述输入数据流发送至所述信号输入电路；