[发明专利]芯片测试方法及系统

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

获取对芯片进行软件仿真测试所得的波形文件，所述波形文件包括所述芯片在软件仿真测试通过的情况下输入引脚在每个时钟周期内的输入信号波形和输出引脚相应产生的预期输出信号波形；

将所述波形文件转换成数据流文件，所述数据流文件包括经所述输入信号波形转换得到的输入数据流和经所述预期输出信号波形转换得到的预期输出数据流；

根据所述输入数据流控制信号输入电路产生激励信号并发送至所述芯片的输入引脚；

通过信号输出电路回收所述芯片的输出引脚输出的输出信号并转换成实际输出数据流；

比较所述实际输出数据流与所述预期输出数据流是否相同，得到测试结果；

所述波形文件即芯片器件时序图，反应信号状态与时间的关系；所述输入信号波形和所述预期输出信号波形由高低电平组成；所述数据流包括时间信息及与时间信息对应的值。

2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

若所述实际输出数据流与所述预期输出数据流不相同，则对不相同的部分打上标签。

3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法还包括：

生成与不相同的部分对应的新的波形文件。

4.一种芯片测试系统，其特征在于，用于实现权利要求1-3任一项所述的芯片测试方法，所述芯片测试系统包括：工控机、PCB母板和PCB子板，所述PCB子板用于嵌入芯片并将芯片的引脚引出，引出的引脚与PCB母板的引脚连接；

所述PCB母板上还设置有微控制器、信号输入电路和信号输出电路；

所述工控机包括波形转换模块；

所述波形转换模块用于获取对所述芯片进行软件仿真测试所得的波形文件，将所述波形文件转换成数据流文件，并将所述数据流文件传输至所述微控制器，所述波形文件包括所述芯片在软件仿真测试通过的情况下输入引脚在每个时钟周期内的输入信号波形和输出引脚相应产生的预期输出信号波形，所述数据流文件包括经所述输入信号波形转换得到的输入数据流和经所述预期输出信号波形转换得到的预期输出数据流；

所述微控制器用于解析所述数据流文件，得到所述输入数据流和所述预期输出数据流，并将所述输入数据流发送至所述信号输入电路；

所述信号输入电路用于产生与所述输入数据流对应的激励信号并发送至所述芯片的输入引脚；

所述信号输出电路用于回收所述芯片的输出引脚输出的输出信号，将所述输出信号转换成实际输出数据流并发送至所述微控制器；

所述微控制器还用于比较所述实际输出数据流与所述预期输出数据流是否相同，得到测试结果；

所述波形文件即芯片器件时序图，反应信号状态与时间的关系；所述输入信号波形和所述预期输出信号波形由高低电平组成；所述数据流包括时间信息及与时间信息对应的值。

5.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述微控制器还用于在所述实际输出数据流与所述预期输出数据流不相同时，对不相同的部分打上标签。

6.如权利要求5所述的芯片测试系统，其特征在于，所述工控机还包括第一存储模块；

所述微控制器还用于将所述测试结果发送至所述第一存储模块；

所述第一存储模块用于存储所述测试结果；

和/或，所述工控机还包括波形生成模块，所述波形生成模块用于生成与不相同的部分对应的新的波形文件。

7.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述工控机还包括引脚配置模块；

所述引脚配置模块用于配置PCB母板引脚配置信息，并将所述PCB母板引脚配置信息发送至所述微控制器，所述PCB母板引脚配置信息用于配置所述输入数据流和所述实际输出数据流与PCB母板引脚的对应关系；

和/或，所述PCB母板上还设置有第二存储模块，所述第二存储模块用于动态存储一个或多个时钟周期的实际输出数据流；

和/或，所述信号输入电路包括第一FPGA模块，所述信号输出电路包括第二FPGA模块。