[发明专利]安全芯片的掉电测试方法及装置有效
| 申请号： | 202011171244.8 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN112416669B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 袁家辉;秦理想;崔永旭;江海朋;郭靖宇;宋亚;刘永富;刘立宗;李胜芳;庞振江;李延;杜君;刘国营;付青琴;时振通 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京兴智翔达知识产权代理有限公司 11768 | 代理人： | 张玉梅 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。 | ||
| 搜索关键词： | 安全 芯片 掉电 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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