[发明专利]安全芯片的掉电测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。

技术领域

本发明是关于安全芯片的测试领域，特别是关于一种安全芯片的掉电测试方法及装置。

背景技术

安全芯片是一种可信任平台模块，是一个可独立进行密钥生成、加解密、签名验签等功能的装置，内部拥有独立的微型处理器和存储单元，可存储密钥和特征数据，为外围终端提供加密和安全认证服务。用安全芯片进行加密，密钥被存储在硬件中，被窃的数据无法解密，从而保护商业隐私和数据安全。安全芯片硬件一般集成有算法单元、随机数发生器、电压和频率检测等多种安全性保护机制，可有效保证传输数据的机密性和完整性。安全芯片具有防监测、抗攻击的安全特性。支持SM1、SM2、SM3、SM4、DES、3DES等多种安全算法；具有7816、14443、SPI等丰富的接口；支持DIP、SOP、接触式卡、非接触式卡、双界面卡等多种封装形式。

安全芯片一般使用EEPROM或者Flash等存储一些重要数据，在运行过程中还会对这些数据进行更新，更新过程中，因为安全芯片欠压或者过压(包括掉电)等因素，会导致数据更新失败，同时Flash里存储的数据会出现异常，不仅用户数据会出现失真，而且代码区数据也可能会被篡改，导致安全芯片无法正常运行。针对这种现象，安全芯片一般都会有一种掉电保护机制：更新前先把需要更新的数据进行备份，然后进行数据更新，无论更新成功或者失败，都修改对应标志位，如果这个过程中发生掉电，再次上电后根据标志位的情况，确定是否需要把备份区的数据再次更新到目的地址。

因为安全芯片的特殊性，针对这种掉电保护机制功能，需要进行专项掉电测试。在安全芯片更新数据的整个时间间隔过程中，进行掉电测试，直到安全芯片返回更新数据成功。如果在数据更新的某个时刻发生掉电且再次上电后，安全芯片里面存储的数据既不是原始数据也不是待更新的新数据，就说明掉电保护机制存在漏洞。

发明人在实现本发明的过程中发现，现有的掉电测试方法适用范围比较局限。发明人发现现有的掉电测试在执行过程中，下电和上电也都只能是从稳定运行电压(一般为3.3v)直接降到0，或者从0直接上电到稳定运行电压(一般为3.3v)，一般上电或者下电整个过程几us就完成了，而安全芯片在实际应用中，存在缓慢上下电的情况，有的上电或下电时间需要几s的时间。另外，安全芯片在实际使用过程中，无论上电或下电，还是稳定运行过程中，电源信号上会存在噪声干扰，现有的掉电测试无法满足此测试条件。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于提供一种安全芯片的掉电测试方法及装置，增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。