[发明专利]安全芯片的掉电测试方法及装置

权利要求书

1.一种安全芯片的掉电测试装置，其特征在于，包括：

USB接口；

主控MCU，与所述USB接口相连，用于在进行安全芯片测试时通过所述USB接口与PC机建立通信，并且接收所述PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令；

存储器，与所述主控MCU相连，所述主控MCU还用于当接收到所述第一APDU指令后，将所述第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至所述存储器；

电压控制单元，与所述主控MCU相连，所述主控MCU还用于当接收到所述第二APDU指令后，读取所述存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到所述第三APDU指令并转发所述第三APDU指令的过程中，根据所述电压配置参数信息对所述电压控制单元进行控制，使得所述电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值；

通信接口，设置在所述电压控制单元与待测的安全芯片之间，所述通信接口还与所述主控MCU相连，所述主控MCU还用于当接收到所述第三APDU指令后，将所述第三APDU指令中的测试数据发送给所述待测安全芯片，

其中，在所述电压控制单元的输出电压值从所述第一电压值变化到所述第二电压值的过程中，所述待测的安全芯片进入欠压或过压测试状态。

2.如权利要求1所述的安全芯片的掉电测试装置，其特征在于，若所述主控MCU读取到的电压配置参数信息包括所述第一电压值、所述第二电压值、所述输出电压值的变化开始时间、所述输出电压值从所述第一电压值变化到所述第二电压值的持续时间，则所述主控MCU在接收到所述第三APDU指令并转发所述第三APDU指令的过程中，根据所述电压配置参数信息对所述电压控制单元进行控制，使得所述电压控制单元的输出电压值在所述输出电压值的变化开始时间进行变化，按照所述持续时间从第一电压值变化到第二电压值。

3.如权利要求1所述的安全芯片的掉电测试装置，其特征在于，若所述主控MCU读取到的电压配置参数信息包括所述第一电压值、所述第二电压值、所述输出电压值的变化开始时间、所述输出电压值从所述第一电压值变化到所述第二电压值的持续时间、噪声干扰信号的幅值以及频率信息，则所述主控MCU在接收到所述第三APDU指令并转发所述第三APDU指令的过程中，根据所述电压配置参数信息对所述电压控制单元进行控制，使得所述电压控制单元的输出电压值在所述输出电压值的变化开始时间进行变化，按照所述持续时间从第一电压值变化到第二电压值，并且在所述输出电压值变化的过程中叠加噪声干扰。

4.如权利要求1所述的安全芯片的掉电测试装置，其特征在于，若所述主控MCU读取到的电压配置参数信息包括所述第一电压值、所述第二电压值，并且所述电压配置参数信息中不包括：所述输出电压值的变化开始时间、所述输出电压值从所述第一电压值变化到所述第二电压值的持续时间，则所述主控MCU在接收到所述第三APDU指令并转发所述第三APDU指令的过程中，根据所述电压配置参数信息对所述主控MCU的输出电压值进行控制，使得所述主控MCU的输出电压值从所述第一电压值直接变化到所述第二电压值。

5.如权利要求1所述的安全芯片的掉电测试装置，其特征在于，所述存储器为静态随机存储器。

6.一种如权利要求1-5任一项所述的安全芯片的掉电测试装置的掉电测试方法，其特征在于，包括：

主控MCU接收到第一APDU指令后，将所述第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器；

所述主控MCU接收到第二APDU指令后，读取所述电压配置参数信息；

若所述主控MCU读取到的电压配置参数信息包括第一电压值、第二电压值、所述输出电压值的变化开始时间、所述输出电压值从所述第一电压值变化到所述第二电压值的持续时间，则所述主控MCU在接收到第三APDU指令并转发所述第三APDU指令的过程中，根据所述电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得所述电压控制单元的输出电压值在所述输出电压值的变化开始时间进行变化，按照所述持续时间从第一电压值变化到第二电压值。