[发明专利]一种表面放射性测量谱仪以及提高测量精度的方法在审
申请号: | 202011107471.4 | 申请日: | 2020-10-16 |
公开(公告)号: | CN114384577A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 韩柯;杜海燕 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36;G01T7/00 |
代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种表面放射性测量谱仪,包括容器、匀强电场生成部件、电荷读出平面、工作气体以及配套信号处理系统。本发明的待测样品直接放置于密闭的测量容器内部进行测量,样品表面放出的放射性粒子直接与工作气体互相作用,有效避免可能的探测器死层带来的效率损失。本发明还提供了一种利用谱仪探测器记录放射性粒子的径迹,并通过计算机算法进行三维径迹重构的方法。不仅能够通过能量沉积特性判断粒子的类型,还能够通过三维径迹判断粒子的初始位置,以此排除本底数据,提高测量精确度。本发明采用像素读出平面,不受半导体制作工艺的限制,可以提供较大的探测面积。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 放射性 测量 以及 提高 精度 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011107471.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:靶向CMTM6的纳米抗体及其制备方法和应用
- 下一篇:泵以及电气产品