[发明专利]一种表面放射性测量谱仪以及提高测量精度的方法在审

专利信息
申请号: 202011107471.4 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN114384577A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 韩柯;杜海燕 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36;G01T7/00
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 代理人: 郑立
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种表面放射性测量谱仪,包括容器、匀强电场生成部件、电荷读出平面、工作气体以及配套信号处理系统。本发明的待测样品直接放置于密闭的测量容器内部进行测量,样品表面放出的放射性粒子直接与工作气体互相作用,有效避免可能的探测器死层带来的效率损失。本发明还提供了一种利用谱仪探测器记录放射性粒子的径迹,并通过计算机算法进行三维径迹重构的方法。不仅能够通过能量沉积特性判断粒子的类型,还能够通过三维径迹判断粒子的初始位置,以此排除本底数据,提高测量精确度。本发明采用像素读出平面,不受半导体制作工艺的限制,可以提供较大的探测面积。
搜索关键词: 一种 表面 放射性 测量 以及 提高 精度 方法
【主权项】:
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