[发明专利]一种高频高精度空间电场测量系统及方法有效
| 申请号： | 202011055263.4 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN112198374B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 岳国华;杜志叶;修连成;李根;柳双;肖湃;郝兆扬;赵鹏飞 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12;G01R29/08;G01R15/24 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 彭艳君 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及空间电场测量技术，具体涉及一种高频高精度空间电场测量系统及方法，该系统包括待测电场区域，半导体激光器、第一、第二偏振控制模块、判断控制器、电光探针；半导体激光器通过保偏光纤分别与第一、第二偏振控制模块相连，第一、第二偏振控制模块通过保偏光纤与电光探针连接，第一、第二偏振控制模块均与判断控制器连接。该测量系统采用了工作频率较高的CdTe晶体作为电光探针，能够实现对高频空间电场的测量；基于电光效应的原理，不会对待测的空间电场造成影响；使用差分电路，能够减小环境随机噪声对本测量仪器的影响；在一个周期内进行两次并行检测，提高了本测量系统的准确性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 高精度 空间 电场 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学，未经武汉大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011055263.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
