[发明专利]三维形貌测量装置有效
| 申请号： | 202011042935.8 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112747686B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 余良彬;王湧锋;陈俊玓 | 申请（专利权）人： | 鉴微科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 王玉双;张燕华 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种三维形貌测量装置，包含：一投射装置、一取像装置、以及一影像处理装置。投射装置投射多个结构光于一场景上，每一个结构光的投射时间彼此错开，结构光依序在一第一投射期间及一第二投射期间投射，结构光分别具有一频率及一平均位准，其中，第一投射期间的结构光的平均位准和第二投射期间的结构光的平均位准相同，第一投射期间的结构光的频率和第二投射期间的结构光的频率不同；取像装置在每一个结构光的投射时间内撷取场景而获得一影像；以及影像处理装置根据影像获得场景内的待测物的三维形貌。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 形貌 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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