[发明专利]获取原子成像中的原子位置的方法与装置有效
申请号: | 202011008851.2 | 申请日: | 2020-09-23 |
公开(公告)号: | CN112116581B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 白雪冬;周鑫;陈潘;许智;廖磊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/70 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;王博 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种透射电镜图像分析方法,包括:输入步骤,其接收材料的具有图像像素值的原始图像;亮原子位形粗提取步骤,其依据图像像素值,获得原始图像中的亮斑的轮廓数据;亮原子位形精细计算步骤,其依据轮廓数据提取原始图像中包含有亮斑的区域的像素值,拟合获得亮原子中心点精确位置;其他原子位形精细计算步骤,其依据多个相邻的亮原子的中心位置以及材料的晶格种类,获得其他原子的中心位置;以及输出步骤以输出原始图像中的原子排布信息。 | ||
搜索关键词: | 获取 原子 成像 中的 位置 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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