[发明专利]X射线测量装置的校正方法在审
| 申请号： | 202010946721.7 | 申请日： | 2020-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN112556611A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 今正人;真家洋武;佐佐木诚治;宫仓常太 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B15/04 | 分类号： | G01B15/04 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而变形，例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 测量 装置 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社三丰，未经株式会社三丰许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010946721.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
