[发明专利]位移测量装置有效
申请号: | 202010883783.8 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN111982017B | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 三浦佑太;菅孝博 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/02 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨贝贝;臧建明 |
地址: | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种位移测量装置,用以让用户容易识别包括不具有电子电路的传感器头的位移测量装置的测量状态。位移测量装置(1)包括:传感器头(30),具有光学系统且不具有电子电路;控制器(100);第1光纤维,将来自光投射部(10)的照射光传递至传感器头(30);及第2光纤维,将来自传感器头(30)的反射光传递至控制器(100)。控制部(50)具有:第1模式,对传感器头(30)与反射位置之间的距离进行测量;及第2模式,通过光投射部(10)的光投射状态来表示传感器头(30)与反射位置之间的距离是否处于规定距离范围的中央部。 | ||
搜索关键词: | 位移 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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