[发明专利]一种FPGA芯片的时钟状态单粒子效应检错装置及方法有效
| 申请号： | 202010868388.2 | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN112052119B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 王海全;姜雷;周华良;甘云华;高诗航;徐建松;陶翔 | 申请（专利权）人： | 国电南瑞科技股份有限公司;国电南瑞南京控制系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/14 | 分类号： | G06F11/14;G06F11/22;G06F11/07;G06F1/06 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 211106 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA芯片的时钟状态单粒子效应检错装置及方法，包括第一晶振、第二晶振和FPGA芯片，所述FPGA芯片内设置有工作时钟产生单元、时钟检错单元和时钟错误恢复单元。本发明所述装置使用独立的第二晶振直接构建监视回路，通过比较第二晶振与工作时钟统计周期内的差异，判断工作时钟的稳定性，对FPGA芯片内时钟资源进行了单粒子效应错误监视，还实现了错误时钟的快速恢复。本发明所述方法不依赖于外部处理器，检错纠错采用独立硬件回路实现，极大降低了单粒子效应对电力二次设备的不利影响，提高了电力二次设备可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 芯片 时钟 状态 粒子 效应 检错 装置 方法 | ||
【主权项】：
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