[发明专利]缺陷识别方法、装置、终端设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202010841257.5 | 申请日： | 2020-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN111951255A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 吴华;刘草 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 梁韬 |
| 地址： | 10220*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了缺陷识别方法、装置、终端设备和可读存储介质，该方法包括分别从参考图像和待测图像中提取相应的参考纹理深度特征和待测纹理深度特征；将所述参考纹理深度特征和所述待测纹理深度特征进行纹理深度类比以确定缺陷差值流图；根据所述缺陷差值流图确定所述待测图像的缺陷位置。一方面，本发明的技术方案在前期训练时，无需利用大量的训练样本进行长时间的训练，缺陷识别效果受训练样本的影响较小，在缺少训练样本时，依然可以实现良好的缺陷识别效果；另一方面，利用纹理深度类比方法提取缺陷纹理，有效提高缺陷识别的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 识别 方法 装置 终端设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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