[发明专利]用于分子检测的芯片结构及检测方法有效
| 申请号： | 202010745908.0 | 申请日： | 2020-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN111944672B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 王一凡;许诺;臧金良;何凝香;王忠晶 | 申请（专利权）人： | 北京机械设备研究所 |
| 主分类号： | C12M1/34 | 分类号： | C12M1/34;C12M1/04;C12M1/00;C12Q1/6848 |
| 代理公司： | 北京云科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11483 | 代理人： | 张飙 |
| 地址： | 100854 北京市海淀区永*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请揭示了一种用于分子检测的芯片结构及检测方法，属于微流控技术领域。该芯片结构包括第一芯片层、第二芯片层和第三芯片层以及样本池，第一芯片层的下表面形成内凹的空腔结构，空腔结构与第二芯片层之间形成气路通道；第三芯片层的上表面形成内凹的至少两个反应腔，第三芯片层与第二芯片层之间形成连通各个反应腔的流体通道；第一芯片层上设置有气体接口，气体接口与气路通道连通；芯片结构还包括液体接口，液体接口与流体通道连通，样本池的下端口与液体接口对接。本申请通过气路通道让第二芯片层发生变形，以密封住反应腔，具备低成本、驱动与自封一体等优势，可极大降低芯片的空间消耗并简化芯片驱动方式。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分子 检测 芯片 结构 方法 | ||
【主权项】：
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