[发明专利]一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法有效
| 申请号： | 202010704910.3 | 申请日： | 2020-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN112017157B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 李刚;王伟;弋东驰;魏际同 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/155;G06T5/50 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 董娜 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学元件激光损伤阈值测试中损伤点识别方法，解决现有图像处理方法无法解决由光照不均匀、对比度低、损伤点粘连、像素偏移对损伤点识别准确性影响的问题。该方法包括步骤：1)将损伤前、损伤后图像转换为损伤前、损伤后灰度图像；2)对损伤前、损伤后灰度图像均采用两种局部二值化算法处理并融合，得到二值化后的损伤前融合图像和损伤后融合图像；3)根据相位相关计算出的像素偏移量对损伤前融合图像进行仿射变换，再背景差分运算得到仅存在损伤点的二值化图像；4)对仅存在损伤点的二值化图像进行闭运算再迭代腐蚀，得到核信息；5)生成分水岭分割的种子区域；6)使用分水岭分割算法对损伤后图像进行分割，获取损伤点信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 激光 损伤 阈值 测试 识别 方法 | ||
【主权项】：
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