[发明专利]一种水平开合的半导体检测用探针座在审
| 申请号： | 202010635205.2 | 申请日： | 2020-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN111896781A | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 张勇 | 申请（专利权）人： | 张勇 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 蓝天知识产权代理(浙江)有限公司 33229 | 代理人： | 郭亚银 |
| 地址： | 317600 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种水平开合的半导体检测用探针座，一对竖直支撑板相互靠近的端面之间成型有一对左右对称设置的连接组；连接组包括一对上下对称设置的连接板；一对竖直支撑板的中心之间设置有测试座；测试座位于一对连接组之间并且位于上侧和下侧的连接板之间；放置座的左右两端左右方向分别套设有加热套；加热套为内侧端成型有与放置座配合的矩形槽状的套设槽的长方体；一对套设槽的上侧壁相互靠近的一端成型有上下贯穿的矩形槽状的检测插孔；套设槽的上下侧壁远离检测插孔的一端成型有上下贯穿的矩形槽状的透气孔；一对套设槽相互远离的内侧壁中心安装有电加热棒。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 水平 半导体 检测 探针 | ||
【主权项】：
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