[发明专利]一种荧光半导体化合物纳米材料的定性检测方法在审
| 申请号： | 202010570329.7 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111999253A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 陈宜波;谢鑫权;郑艾龙 | 申请（专利权）人： | 厦门虹鹭钨钼工业有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 张松亭;姜谧 |
| 地址： | 361000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光半导体化合物纳米材料的定性检测方法，通过Lab颜色空间快速定性表征少层二硫化钼纳米材料，可以满足实际生产过程中质量控制、过程控制和快速检测的要求，并降低了制样、上样过程和选取观测对象受人为操作因素的影响，并能够在整体上反映纳米材料实际应用前的材料性状，对制备质量均一的二硫化钼纳米片材料具有重要的指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 半导体 化合物 纳米 材料 定性 检测 方法 | ||
【主权项】：
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