[发明专利]窄台面绝缘栅双极型晶体管器件及形成方法在审

专利信息
申请号: 202010548983.8 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN113809145A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 季明华;林庆儒;吴盈璁;刘聪慧;杨龙康;王欢;张汝京 申请(专利权)人: 芯恩(青岛)集成电路有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739;H01L21/331
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 266000 山东省青岛市*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种窄台面绝缘栅双极型晶体管器件及形成方法,器件包括:半导体衬底;形成于半导体衬底正面并沿水平方向间隔排列的栅极沟槽结构和发射极沟槽结构;其在排列方向上各自成对设置,且在排列方向上相互交叠;形成于成对的发射极沟槽结构之间的阱区;形成于栅极沟槽结构之间以及发射极沟槽结构之间的发射极注入区;在发射极沟槽结构之间的区域中,发射极注入区位于阱区上方。本发明在主动台面区不设置P型掺杂区,而在非主动台面区中形成P型掺杂区以及位于P型掺杂区上方的N+型掺杂区,不但通过引入窄台面区增强电子注入,获得了较低的器件导通电阻,也通过减少窄台面区的空穴浓度,增强了器件抗短路能力,消除了CIBL效应。
搜索关键词: 台面 绝缘 栅双极型 晶体管 器件 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芯恩(青岛)集成电路有限公司,未经芯恩(青岛)集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010548983.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top