[发明专利]利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法在审
| 申请号： | 202010533730.3 | 申请日： | 2020-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN113777121A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 刘小东;滕飞;贾少鹏;谭志勇;吴梅 | 申请（专利权）人： | 北京安科慧生科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101102 北京市通*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其包括以下步骤：步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；步骤2、定义样品氯含量值为X_Cl，将I_Cl及I_Ge代入以下公式：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，得出X_Cl，其中A0、A1、A2及A3为预先使用所述X射线荧光光谱仪对多组已知氯含量的标准样品进行检测而确定的具体数值。本申请通过上述方法检测，可降低高硫样品中硫元素对氯元素的影响，得到的样品氯含量结果更加精确。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 射线 荧光 光谱仪 进行 含量 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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