[发明专利]小样本缺陷识别方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010475301.5 | 申请日： | 2020-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN111627015A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 刘万凯;盛兴东;耿生海;朱琳;黄舒婷 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T9/00;G06K9/46;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王娇娇 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种小样本缺陷识别方法、装置、设备及存储介质，获取待测图像，将待测图像输入编码器，通过编码器获得待测图像对应的第一特征向量；所述编码器是通过多个包含第二物体的样本图像作为包含编码器和解码器的第一神经网络的输入，将标准图像与解码器输出图像的比较结果作为损失函数，训练第一神经网络得到的，所以基于编码器得到的第一特征向量不包括待测图像中的噪声数据和除第一物体外的背景数据，数据维度大大降低；将第一特征向量输入预构建的缺陷识别模型后，缺陷识别模型的处理速度大大提升，且缺陷识别模型仅依赖第一物体自己的特征，提高了缺陷识别模型确定第一物体是否具有缺陷的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 缺陷 识别 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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